KS C IEC 60749(2020 Confirm) | Электронный магазин стандартов

KS C IEC 60749(2020 Confirm)
Semiconductor devices - Mechanical and climate test methods

	На языке оригинала
	Заказать перевод

Библиография

Обозначение	KS C IEC 60749(2020 Confirm)
Международный стандарт	IEC 60749:2002(IDT)
Заглавие на английском языке	Semiconductor devices - Mechanical and climate test methods
Дата опубликования	2004.08.13
Код МКС	31.080.01

ОКС \ ЭЛЕКТРОНИКА \ Полупроводниковые приборы * Полупроводниковые материалы см. 29.045 \ Полупроводниковые приборы в целом \