|
 |
Библиография | Обозначение | KS C IEC 62526(2020 Confirm) | | Международный стандарт | IEC 62526:2007(IDT) | | Заглавие на английском языке | Standard for Extensions to Standard Test Interface Language (STIL) for Semiconductor Design Environments | | Дата опубликования | 2015.12.30 | | Код МКС | 25.040 | |
|
|
Стандарт KS C IEC 62526(2020 Confirm) входит в рубрики классификатора:
| | |
|