ASTM F1262M-14
Standard Guide for Transient Radiation Upset Threshold Testing of Digital Integrated Circuits (Metric)
На языке оригинала
Оригинал+перевод
Заказать перевод
Библиография
Обозначение
ASTM F1262M-14
Заглавие на английском языке
Standard Guide for Transient Radiation Upset Threshold Testing of Digital Integrated Circuits (Metric)
Количество страниц оригинала
6
Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/6881546.aspx