Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/6882274.aspx

ASTM E1162-11(2019)

Standard Practice for Reporting Sputter Depth Profile Data in Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS)

Оригинал+переводПоложить в корзину
На языке оригиналаПоложить в корзину
Заказать перевод

Библиография

ОбозначениеASTM E1162-11(2019)
Заглавие на английском языкеStandard Practice for Reporting Sputter Depth Profile Data in Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS)
Количество страниц оригинала3