Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/6884131.aspx

ASTM F1192-11(2018)

Standard Guide for the Measurement of Single Event Phenomena (SEP) Induced by Heavy Ion Irradiation of Semiconductor Devices

Оригинал+переводПоложить в корзину
На языке оригиналаПоложить в корзину
Заказать перевод

Библиография

ОбозначениеASTM F1192-11(2018)
Заглавие на английском языкеStandard Guide for the Measurement of Single Event Phenomena (SEP) Induced by Heavy Ion Irradiation of Semiconductor Devices
Количество страниц оригинала11