Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/6892162.aspx

ASTM F980-16

Standard Guide for Measurement of Rapid Annealing of Neutron-Induced Displacement Damage in Silicon Semiconductor Devices

На языке оригиналаПоложить в корзину
Оригинал+переводПоложить в корзину
Заказать перевод

Библиография

ОбозначениеASTM F980-16
Заглавие на английском языкеStandard Guide for Measurement of Rapid Annealing of Neutron-Induced Displacement Damage in Silicon Semiconductor Devices
Количество страниц оригинала7