Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/6893164.aspx

ASTM E2382-04(2020)

Standard Guide to Scanner and Tip Related Artifacts in Scanning Tunneling Microscopy and Atomic Force Microscopy

Оригинал+переводПоложить в корзину
На языке оригиналаПоложить в корзину
Заказать перевод

Библиография

ОбозначениеASTM E2382-04(2020)
Заглавие на английском языкеStandard Guide to Scanner and Tip Related Artifacts in Scanning Tunneling Microscopy and Atomic Force Microscopy
Количество страниц оригинала20