KS C IEC 60749-3 | Электронный магазин стандартов

KS C IEC 60749-3
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination

	На языке оригинала
	Заказать перевод

Библиография

Обозначение	KS C IEC 60749-3
Международный стандарт	IEC 60749-3:2017(IDT)
Заглавие на английском языке	Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination
Дата опубликования	2021.12.29
Код МКС	31.080.01

ОКС \ ЭЛЕКТРОНИКА \ Полупроводниковые приборы * Полупроводниковые материалы см. 29.045 \ Полупроводниковые приборы в целом \