KS C 6521
Method of evaluation for coating components of semiconductor and LCD process
На языке оригинала
Заказать перевод
Библиография
Обозначение
KS C 6521
Заглавие на английском языке
Method of evaluation for coating components of semiconductor and LCD process
Дата опубликования
2021.12.29
Стандарт KS C 6521 входит в рубрики классификатора:
ОКП \
КГС \
ОКС \
Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/6897224.aspx