KS C 6563(2021 Confirm)
Principal measuring methods for semiconductor pressure sensor elements
На языке оригинала
Заказать перевод
Библиография
Обозначение
KS C 6563(2021 Confirm)
Международный стандарт
IEC 60747-1(NEQ)
Заглавие на английском языке
Principal measuring methods for semiconductor pressure sensor elements
Дата опубликования
1996.12.30
Код МКС
31.080.99
Стандарт KS C 6563(2021 Confirm) входит в рубрики классификатора:
ОКС \ ЭЛЕКТРОНИКА \ Полупроводниковые приборы * Полупроводниковые материалы см. 29.045 \ Полупроводниковые приборы прочие \
Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/6897602.aspx