Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/6897602.aspx

KS C 6563(2021 Confirm)

Principal measuring methods for semiconductor pressure sensor elements

На языке оригиналаПоложить в корзину
Заказать перевод

Библиография

ОбозначениеKS C 6563(2021 Confirm)
Международный стандартIEC 60747-1(NEQ)
Заглавие на английском языкеPrincipal measuring methods for semiconductor pressure sensor elements
Дата опубликования1996.12.30
Код МКС31.080.99

Стандарт KS C 6563(2021 Confirm) входит в рубрики классификатора: