Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/7421679.aspx

KS D 0262(2022 Confirm)

Visual inspection for sliced and lapped silicon wafers

На языке оригиналаПоложить в корзину
Заказать перевод

Библиография

ОбозначениеKS D 0262(2022 Confirm)
Заглавие на английском языкеVisual inspection for sliced and lapped silicon wafers
Дата опубликования2002.05.29
Код МКС29.045

Стандарт KS D 0262(2022 Confirm) входит в рубрики классификатора: