KS D 0262(2022 Confirm)
Visual inspection for sliced and lapped silicon wafers
На языке оригинала
Заказать перевод
Библиография
Обозначение
KS D 0262(2022 Confirm)
Заглавие на английском языке
Visual inspection for sliced and lapped silicon wafers
Дата опубликования
2002.05.29
Код МКС
29.045
Стандарт KS D 0262(2022 Confirm) входит в рубрики классификатора:
ОКС \ ЭЛЕКТРОТЕХНИКА \ Полупроводниковые материалы \
Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/7421679.aspx