KS D 0259(2022 Confirm)
Methods of measurement of thickness,thickness variation and bow for silicon wafer
На языке оригинала
Заказать перевод
Библиография
Обозначение
KS D 0259(2022 Confirm)
Заглавие на английском языке
Methods of measurement of thickness,thickness variation and bow for silicon wafer
Дата опубликования
2012.05.17
Код МКС
77.120.99
Стандарт KS D 0259(2022 Confirm) входит в рубрики классификатора:
ОКС \ МЕТАЛЛУРГИЯ \ Цветные металлы * Включая классификацию, обозначение, отбор образцов, химический анализ и т.д. * Драгоценные металлы для стоматологии см. 11.060.10 * Драгоценные металлы для ювелирного дела см. 39.060 * Размеры и классы качества продукции из цветных металлов см. 77.150 \ Цветные металлы и их сплавы прочие \
Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/7424037.aspx