| Обозначение | ISO 5618-1:2023 |
| Статус | Действует |
| Вид стандарта | ST |
| Заглавие на русском языке | Тонкая керамика (высококачественная керамика, высококачественная техническая керамика). Метод определения дефектов поверхности кристаллов GaN. Часть 1. Классификация дефектов |
| Заглавие на английском языке | Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics) Test method for GaN crystal surface defects Part 1: Classification of defects |
| Код КС (ОКС, МКС) | 81.060.30 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 206 |
| Язык оригинала | английский |
| Номер издания | 1 |
| Дата опубликования | 15.11.2023 |
| Количество страниц оригинала | 14 |
| Код цены | B |
| Примечание | |
 |