Обозначение | GB/T 6624-2009 |
Заглавие на английском языке | Standard method for measuring the surface quality of polished silicon slices by visual inspection |
Дата опубликования | 2009-10-30 |
Дата вступления в силу | 2010-06-01 |
Код МКС | 29.045 |
Обозначение заменяемого(ых) | GB/T 6624-1995 |
Степень гармонизации | |
Количество страниц оригинала | 8 |
Статус | Published |
Тип стандарта | voluntary national standard |
Язык оригинала | Chinese |
Доступные языки | |
Имя файла | |
CCS Code | H80 |
|