GB/T 4937.4-2012
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)
На языке оригинала
Заказать перевод
Библиография
Обозначение
GB/T 4937.4-2012
Заглавие на английском языке
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)
Дата опубликования
2012-11-05
Дата вступления в силу
2013-02-15
Код МКС
31.080.01
Разработан на основе
IEC 60749-4:2002
Степень гармонизации
IDT
Количество страниц оригинала
8
Статус
Published
Тип стандарта
voluntary national standard
Язык оригинала
Chinese
Доступные языки
Имя файла
CCS Code
L40
Стандарт GB/T 4937.4-2012 входит в рубрики классификатора:
ОКС \ ЭЛЕКТРОНИКА \ Полупроводниковые приборы * Полупроводниковые материалы см. 29.045 \ Полупроводниковые приборы в целом \
Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/7507816.aspx