GB/T 43226-2023 | | | Time-domain test methods for space single event soft errors of semiconductor integrated circuit |
|
|
 |
Библиография | Обозначение | GB/T 43226-2023 | | Заглавие на английском языке | Time-domain test methods for space single event soft errors of semiconductor integrated circuit | | Дата опубликования | 2023-09-07 | | Дата вступления в силу | 2024-01-01 | | Код МКС | 49.140 | | Степень гармонизации | | | Количество страниц оригинала | 12 | | Статус | Published | | Тип стандарта | voluntary national standard | | Язык оригинала | Chinese | | Доступные языки | | | Имя файла | | | CCS Code | V25 | |
|
|
Стандарт GB/T 43226-2023 входит в рубрики классификатора:
| | |
|