Обозначение | GB/T 6619-2009 |
Заглавие на английском языке | Test methods for bow of silicon wafers |
Дата опубликования | 2009-10-30 |
Дата вступления в силу | 2010-06-01 |
Код МКС | 29.045 |
Обозначение заменяемого(ых) | GB/T 6619-1995 |
Разработан на основе | SEMI MF534-0706 |
Степень гармонизации | MOD |
Количество страниц оригинала | 12 |
Статус | Published |
Тип стандарта | voluntary national standard |
Язык оригинала | Chinese |
Доступные языки | |
Имя файла | |
CCS Code | H80 |
![](/i/imgs/sp.gif) |