| Обозначение | ISO 20263:2024 |
| Статус | Действует |
| Вид стандарта | ST |
| Заглавие на русском языке | Анализ с использованием микропучка. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения положения границы раздела на изображении поперечного сечения слоистых материалов |
| Заглавие на английском языке | Microbeam analysis Analytical electron microscopy Method for the determination of interface position in the cross-sectional image of the layered materials |
| Код КС (ОКС, МКС) | 37.020; 71.040.50 |
| Обозначение заменяемого(ых) | ISO 20263:2017 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 202/SC 3 |
| Язык оригинала | английский |
| Номер издания | 2 |
| Дата опубликования | 06.11.2024 |
| Количество страниц оригинала | 54 |
| Код цены | F |
| Примечание | |
 |