Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/7731429.aspx

GB/T 34326-2017

Surface chemical analysis—Depth profiling—Methods for ion beam alignment and the associated measurement of current or current density for depth profiling in AES and XPS

На языке оригиналаПоложить в корзину
Заказать перевод

Библиография

ОбозначениеGB/T 34326-2017
Заглавие на английском языкеSurface chemical analysis—Depth profiling—Methods for ion beam alignment and the associated measurement of current or current density for depth profiling in AES and XPS
Дата опубликования2017-09-29
Дата вступления в силу2018-08-01
Код МКС71.040.40
Разработан на основеISO 16531:2013
Степень гармонизацииIDT
Количество страниц оригинала20
СтатусPublished
Тип стандартаvoluntary national standard
Язык оригиналаChinese
Доступные языки
Имя файла
GPQG04

Стандарт GB/T 34326-2017 входит в рубрики классификатора: