GB/T 34326-2017 | | Surface chemical analysis—Depth profiling—Methods for ion beam alignment and the associated measurement of current or current density for depth profiling in AES and XPS |
|
|
 |
Библиография Обозначение | GB/T 34326-2017 | Заглавие на английском языке | Surface chemical analysis—Depth profiling—Methods for ion beam alignment and the associated measurement of current or current density for depth profiling in AES and XPS | Дата опубликования | 2017-09-29 | Дата вступления в силу | 2018-08-01 | Код МКС | 71.040.40 | Разработан на основе | ISO 16531:2013 | Степень гармонизации | IDT | Количество страниц оригинала | 20 | Статус | Published | Тип стандарта | voluntary national standard | Язык оригинала | Chinese | Доступные языки | | Имя файла | | GPQ | G04 |  |
|
 |
Стандарт GB/T 34326-2017 входит в рубрики классификатора:
| |
|