GB/T 34326-2017 | | | Surface chemical analysis—Depth profiling—Methods for ion beam alignment and the associated measurement of current or current density for depth profiling in AES and XPS |
|
|
 |
Библиография | Обозначение | GB/T 34326-2017 | | Заглавие на английском языке | Surface chemical analysis—Depth profiling—Methods for ion beam alignment and the associated measurement of current or current density for depth profiling in AES and XPS | | Дата опубликования | 2017-09-29 | | Дата вступления в силу | 2018-08-01 | | Код МКС | 71.040.40 | | Разработан на основе | ISO 16531:2013 | | Степень гармонизации | IDT | | Количество страниц оригинала | 20 | | Статус | Published | | Тип стандарта | voluntary national standard | | Язык оригинала | Chinese | | Доступные языки | | | Имя файла | | | GPQ | G04 | |
|
|
Стандарт GB/T 34326-2017 входит в рубрики классификатора:
| | |
|