GB/T 33922-2017 | | | Wafer level test methods for MEMS piezoresistive pressure-sensitive die performances |
|
|
 |
Библиография | Обозначение | GB/T 33922-2017 | | Заглавие на английском языке | Wafer level test methods for MEMS piezoresistive pressure-sensitive die performances | | Дата опубликования | 2017-07-12 | | Дата вступления в силу | 2018-02-01 | | Код МКС | 31.200 | | Степень гармонизации | | | Количество страниц оригинала | 16 | | Статус | Published | | Тип стандарта | voluntary national standard | | Язык оригинала | Chinese | | Доступные языки | | | Имя файла | | | GPQ | L55 | |
|
|
Стандарт GB/T 33922-2017 входит в рубрики классификатора:
| | |
|