GB/T 32495-2016 | | Surface chemical analysis—Secondary-ion mass spectrometry—Method for depth profiling of arsenic in silicon |
|
|
 |
Библиография Обозначение | GB/T 32495-2016 | Заглавие на английском языке | Surface chemical analysis—Secondary-ion mass spectrometry—Method for depth profiling of arsenic in silicon | Дата опубликования | 2016-02-24 | Дата вступления в силу | 2017-01-01 | Код МКС | 71.040.40 | Разработан на основе | ISO 12406:2010 | Степень гармонизации | IDT | Количество страниц оригинала | 16 | Статус | Published | Тип стандарта | voluntary national standard | Язык оригинала | Chinese | Доступные языки | | Имя файла | | GPQ | G04 |  |
|
 |
Стандарт GB/T 32495-2016 входит в рубрики классификатора:
| |
|