GB/T 32495-2016 | | | Surface chemical analysis—Secondary-ion mass spectrometry—Method for depth profiling of arsenic in silicon |
|
|
 |
Библиография | Обозначение | GB/T 32495-2016 | | Заглавие на английском языке | Surface chemical analysis—Secondary-ion mass spectrometry—Method for depth profiling of arsenic in silicon | | Дата опубликования | 2016-02-24 | | Дата вступления в силу | 2017-01-01 | | Код МКС | 71.040.40 | | Разработан на основе | ISO 12406:2010 | | Степень гармонизации | IDT | | Количество страниц оригинала | 16 | | Статус | Published | | Тип стандарта | voluntary national standard | | Язык оригинала | Chinese | | Доступные языки | | | Имя файла | | | GPQ | G04 | |
|
|
Стандарт GB/T 32495-2016 входит в рубрики классификатора:
| | |
|