Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/7739877.aspx

GB/T 32495-2016

Surface chemical analysis—Secondary-ion mass spectrometry—Method for depth profiling of arsenic in silicon

На языке оригиналаПоложить в корзину
Заказать перевод

Библиография

ОбозначениеGB/T 32495-2016
Заглавие на английском языкеSurface chemical analysis—Secondary-ion mass spectrometry—Method for depth profiling of arsenic in silicon
Дата опубликования2016-02-24
Дата вступления в силу2017-01-01
Код МКС71.040.40
Разработан на основеISO 12406:2010
Степень гармонизацииIDT
Количество страниц оригинала16
СтатусPublished
Тип стандартаvoluntary national standard
Язык оригиналаChinese
Доступные языки
Имя файла
GPQG04

Стандарт GB/T 32495-2016 входит в рубрики классификатора: