GB/T 30701-2014
Surface chemical analysis―Chemical methods for the collection of elements from the surface of silicon-wafer working reference materials and their determination by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy
На языке оригинала
Заказать перевод
Библиография
Обозначение
GB/T 30701-2014
Заглавие на английском языке
Surface chemical analysis―Chemical methods for the collection of elements from the surface of silicon-wafer working reference materials and their determination by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy
Дата опубликования
2014-03-27
Дата вступления в силу
2014-12-01
Код МКС
71.040.40
Разработан на основе
ISO 17331:2004
Степень гармонизации
IDT
Количество страниц оригинала
24
Статус
Published
Тип стандарта
voluntary national standard
Язык оригинала
Chinese
Доступные языки
Имя файла
GPQ
G04
Стандарт GB/T 30701-2014 входит в рубрики классификатора:
ОКС \ ХИМИЧЕСКАЯ ПРОМЫШЛЕННОСТЬ \ Аналитическая химия * Эта группа включает стандарты общего назначения \ Химический анализ *Включая анализ газов и поверхностный химический анализ \
Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/7742063.aspx