GB/T 43894.1-2024 | | | Practice for determining semiconductor wafer near-edge geometry—Part 1:Measured height data array using a curvature metric（ZDD） |
|
|
 |
Библиография | Обозначение | GB/T 43894.1-2024 | | Заглавие на английском языке | Practice for determining semiconductor wafer near-edge geometry—Part 1:Measured height data array using a curvature metricпј€ZDDпј‰ | | Дата опубликования | 2024-04-25 | | Дата вступления в силу | 2024-11-01 | | Код МКС | 77.040 | | Степень гармонизации | | | Количество страниц оригинала | 12 | | Статус | Published | | Тип стандарта | voluntary national standard | | Язык оригинала | Chinese | | Доступные языки | | | Имя файла | | | GPQ | H21 | |
|
|
Стандарт GB/T 43894.1-2024 входит в рубрики классификатора:
| | |
|