Библиография | Обозначение | GB/T 36613-2018 | | Заглавие на английском языке | Probe test method for light emitting diode chips | | Дата опубликования | 2018-09-17 | | Дата вступления в силу | 2019-01-01 | | Код МКС | 31.260 | | Степень гармонизации | | | Количество страниц оригинала | 12 | | Статус | Published | | Тип стандарта | voluntary national standard | | Язык оригинала | Chinese | | Доступные языки | | | Имя файла | | | GPQ | L45 |  |
|