Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/7744770.aspx

GB/T 40109-2021

Surface chemical analysis—Secondary-ion mass spectrometry—Method for depth profiling of boron in silicon

На языке оригиналаПоложить в корзину
Заказать перевод

Библиография

ОбозначениеGB/T 40109-2021
Заглавие на английском языкеSurface chemical analysis—Secondary-ion mass spectrometry—Method for depth profiling of boron in silicon
Дата опубликования2021-05-21
Дата вступления в силу2021-12-01
Код МКС71.040.40
Разработан на основеISO 17560:2014
Степень гармонизацииIDT
Количество страниц оригинала16
СтатусPublished
Тип стандартаvoluntary national standard
Язык оригиналаChinese
Доступные языки
Имя файла
GPQG04

Стандарт GB/T 40109-2021 входит в рубрики классификатора: