GB/T 30860-2014 | | | Test methods for surface roughness and saw mark of silicon wafers for solar cells |
|
|
 |
Библиография | Обозначение | GB/T 30860-2014 | | Заглавие на английском языке | Test methods for surface roughness and saw mark of silicon wafers for solar cells | | Дата опубликования | 2014-07-24 | | Дата вступления в силу | 2015-04-01 | | Код МКС | 77.040 | | Степень гармонизации | | | Количество страниц оригинала | 16 | | Статус | Published | | Тип стандарта | voluntary national standard | | Язык оригинала | Chinese | | Доступные языки | | | Имя файла | | | GPQ | H21 | |
|
|
Стандарт GB/T 30860-2014 входит в рубрики классификатора:
| | |
|