Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/7748926.aspx

GB/T 24577-2009

Test methods for analyzing organic contaminants on silicon wafer surfaces by thermal desorption gas chromatography

На языке оригиналаПоложить в корзину
Заказать перевод

Библиография

ОбозначениеGB/T 24577-2009
Заглавие на английском языкеTest methods for analyzing organic contaminants on silicon wafer surfaces by thermal desorption gas chromatography
Дата опубликования2009-10-30
Дата вступления в силу2010-06-01
Код МКС29.045
Разработан на основеSEMI MF1982-1103
Степень гармонизацииMOD
Количество страниц оригинала16
СтатусPublished
Тип стандартаvoluntary national standard
Язык оригиналаChinese
Доступные языки
Имя файла
GPQH80

Стандарт GB/T 24577-2009 входит в рубрики классификатора: