Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/7753716.aspx

GB/T 24576-2009

Test method for measuring the Al fraction in AlGaAs on GaAs substrates by high resolution X-ray diffraction

На языке оригиналаПоложить в корзину
Заказать перевод

Библиография

ОбозначениеGB/T 24576-2009
Заглавие на английском языкеTest method for measuring the Al fraction in AlGaAs on GaAs substrates by high resolution X-ray diffraction
Дата опубликования2009-10-30
Дата вступления в силу2010-06-01
Код МКС29.045
Разработан на основеSMEI M63-0306
Степень гармонизацииIDT
Количество страниц оригинала12
СтатусPublished
Тип стандартаvoluntary national standard
Язык оригиналаChinese
Доступные языки
Имя файла
GPQH80

Стандарт GB/T 24576-2009 входит в рубрики классификатора: