GB/T 1551-2021 | | | Test method for measuring resistivity of monocrystal silicon—In-line four-point probe and direct current two-point probe method |
|
|
 |
Библиография | Обозначение | GB/T 1551-2021 | | Заглавие на английском языке | Test method for measuring resistivity of monocrystal silicon—In-line four-point probe and direct current two-point probe method | | Дата опубликования | 2021-05-21 | | Дата вступления в силу | 2021-12-01 | | Код МКС | 77.040 | | Обозначение заменяемого(ых) | GB/T 1551-2009 | | Степень гармонизации | | | Количество страниц оригинала | 28 | | Статус | Published | | Тип стандарта | voluntary national standard | | Язык оригинала | Chinese | | Доступные языки | | | Имя файла | | | CCS Code | H21 | |
|
|
Стандарт GB/T 1551-2021 входит в рубрики классификатора:
| | |
|