Библиография | Обозначение | GB/T 26066-2010 | | Заглавие на английском языке | practice for shallow etch pit detection on silicon | | Дата опубликования | 2011-01-10 | | Дата вступления в силу | 2011-10-01 | | Код МКС | 29.045 | | Степень гармонизации | | | Количество страниц оригинала | 8 | | Статус | Published | | Тип стандарта | voluntary national standard | | Язык оригинала | Chinese | | Доступные языки | | | Имя файла | | | GPQ | H80 |  |
|