GB/T 42263-2022 | | | Determination of nitrogen content in silicon single crystal—Secondary ion mass spectrometry method |
|
|
 |
Библиография | Обозначение | GB/T 42263-2022 | | Заглавие на английском языке | Determination of nitrogen content in silicon single crystal—Secondary ion mass spectrometry method | | Дата опубликования | 2022-12-30 | | Дата вступления в силу | 2023-04-01 | | Код МКС | 77.040 | | Степень гармонизации | | | Количество страниц оригинала | 12 | | Статус | Published | | Тип стандарта | voluntary national standard | | Язык оригинала | Chinese | | Доступные языки | | | Имя файла | | | CCS Code | H17 | |
|
|
Стандарт GB/T 42263-2022 входит в рубрики классификатора:
| | |
|