GB/T 4937.35-2024 | | | Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 35: Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components |
|
|
 |
Библиография | Обозначение | GB/T 4937.35-2024 | | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 35: Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components | | Дата опубликования | 2024-03-15 | | Дата вступления в силу | 2024-07-01 | | Код МКС | 31.080.01 | | Разработан на основе | IEC 60749-35:2006 | | Степень гармонизации | IDT | | Количество страниц оригинала | 24 | | Статус | Published | | Тип стандарта | voluntary national standard | | Язык оригинала | Chinese | | Доступные языки | | | Имя файла | | | GPQ | L40 | |
|
|
Стандарт GB/T 4937.35-2024 входит в рубрики классификатора:
| | |
|