KS C IEC 60759(2024 Confirm)
Standard test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers
На языке оригинала
Заказать перевод
Библиография
Обозначение
KS C IEC 60759(2024 Confirm)
Международный стандарт
IEC 60759:1983(IDT)
Заглавие на английском языке
Standard test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers
Дата опубликования
2009.12.30
Код МКС
17.240
Стандарт KS C IEC 60759(2024 Confirm) входит в рубрики классификатора:
ОКС \ МЕТРОЛОГИЯ И ИЗМЕРЕНИЯ. ФИЗИЧЕСКИЕ ЯВЛЕНИЯ \ Измерение излучений *Включая дозиметрию *Защита от излучений см. 13.280 \
Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/7780284.aspx