Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/7791758.aspx

GB/T 36477-2018

Semiconductor integrated circuit—Measuring methods for flash memory

На языке оригиналаПоложить в корзину
Заказать перевод

Библиография

ОбозначениеGB/T 36477-2018
Заглавие на английском языкеSemiconductor integrated circuit—Measuring methods for flash memory
Дата опубликования2018-06-07
Дата вступления в силу2019-01-01
Код МКС31.200
Степень гармонизации
Количество страниц оригинала20
СтатусPublished
Тип стандартаvoluntary national standard
Язык оригиналаChinese
Доступные языки
Имя файла
GPQL56

Стандарт GB/T 36477-2018 входит в рубрики классификатора: