GB/T 32189-2015 | | | Test method for surface roughness of GaN single crystal substrate by atomic force microscope |
|
|
 |
Библиография | Обозначение | GB/T 32189-2015 | | Заглавие на английском языке | Test method for surface roughness of GaN single crystal substrate by atomic force microscope | | Дата опубликования | 2015-12-10 | | Дата вступления в силу | 2016-11-01 | | Код МКС | 77.040 | | Степень гармонизации | | | Количество страниц оригинала | 16 | | Статус | Published | | Тип стандарта | voluntary national standard | | Язык оригинала | Chinese | | Доступные языки | | | Имя файла | | | GPQ | H21 | |
|
|
Стандарт GB/T 32189-2015 входит в рубрики классификатора:
| | |
|