KS C IEC 63068-3 | Электронный магазин стандартов

KS C IEC 63068-3
Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 3: Test method for defects using photoluminescence

	На языке оригинала
	Заказать перевод

Библиография

Обозначение	KS C IEC 63068-3
Международный стандарт	IEC 63068-3:2020(IDT)
Заглавие на английском языке	Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 3: Test method for defects using photoluminescence
Дата опубликования	2025.01.31
Код МКС	31.080.99

ОКС \ ЭЛЕКТРОНИКА \ Полупроводниковые приборы * Полупроводниковые материалы см. 29.045 \ Полупроводниковые приборы прочие \