KS C IEC 63068-2 | Электронный магазин стандартов

KS C IEC 63068-2
Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 2: Test method for defects using optical inspection

	На языке оригинала
	Заказать перевод

Библиография

Обозначение	KS C IEC 63068-2
Международный стандарт	IEC 63068-2:2019(IDT)
Заглавие на английском языке	Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 2: Test method for defects using optical inspection
Дата опубликования	2025.01.31
Код МКС	31.080.99

ОКС \ ЭЛЕКТРОНИКА \ Полупроводниковые приборы * Полупроводниковые материалы см. 29.045 \ Полупроводниковые приборы прочие \