Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/7923246.aspx

GB/T 29507-2013

Test method for measuring flatness, thickness and total thickness variation on silicon wafers by automated non-contact scanning

На языке оригиналаПоложить в корзину
Заказать перевод

Библиография

ОбозначениеGB/T 29507-2013
Заглавие на английском языкеTest method for measuring flatness, thickness and total thickness variation on silicon wafers by automated non-contact scanning
Дата опубликования2013-05-09
Дата вступления в силу2014-02-01
Код МКС29.045
Степень гармонизации
Количество страниц оригинала16
СтатусPublished
Тип стандартаvoluntary national standard
Язык оригиналаChinese
Доступные языки
Имя файла
GPQH80

Стандарт GB/T 29507-2013 входит в рубрики классификатора: