GB/T 24581-2022 | | | Test method for Ⅲ and Ⅴ impurities content in single crystal silicon—Low temperature FT-IR analysis method |
|
|
 |
Библиография | Обозначение | GB/T 24581-2022 | | Заглавие на английском языке | Test method for в…ў and в…¤ impurities content in single crystal silicon—Low temperature FT-IR analysis method | | Дата опубликования | 2022-03-09 | | Дата вступления в силу | 2022-10-01 | | Код МКС | 77.040 | | Обозначение заменяемого(ых) | GB/T 24581-2009 | | Степень гармонизации | | | Количество страниц оригинала | 12 | | Статус | Published | | Тип стандарта | voluntary national standard | | Язык оригинала | Chinese | | Доступные языки | | | Имя файла | | | GPQ | H17 | |
|
|
Стандарт GB/T 24581-2022 входит в рубрики классификатора:
| | |
|