| Обозначение | GB/T 5201-2012 |
| Заглавие на английском языке | Test procedures for semiconductor charged particle detectors |
| Дата опубликования | 2012-06-29 |
| Дата вступления в силу | 2012-11-01 |
| Код МКС | 27.120 |
| Обозначение заменяемого(ых) | GB/T 5201-1994 |
| Разработан на основе | IEC 60333:1993 |
| Степень гармонизации | NEQ |
| Количество страниц оригинала | 20 |
| Статус | Published |
| Тип стандарта | voluntary national standard |
| Язык оригинала | Chinese |
| Доступные языки | |
| Имя файла | |
| GPQ | F88 |
 |