GB/T 27760-2011 | | | Test method for calibrating the z-magnification of an atomic force microscope at subnanometer displacement levels using si (111) monatomic steps |
|
|
 |
Библиография | Обозначение | GB/T 27760-2011 | | Заглавие на английском языке | Test method for calibrating the z-magnification of an atomic force microscope at subnanometer displacement levels using si (111) monatomic steps | | Дата опубликования | 2011-12-30 | | Дата вступления в силу | 2012-05-01 | | Код МКС | 19.020 | | Разработан на основе | ASTM E 2530-2006 | | Степень гармонизации | MOD | | Количество страниц оригинала | 16 | | Статус | Published | | Тип стандарта | voluntary national standard | | Язык оригинала | Chinese | | Доступные языки | | | Имя файла | | | GPQ | N04 | |
|
|
Стандарт GB/T 27760-2011 входит в рубрики классификатора:
| | |
|