GB/T 4937.1-2006 | | | Semiconductor devices―Mechanical and climatic test methods―Part 1: General |
|
|
 |
Библиография | Обозначение | GB/T 4937.1-2006 | | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices―Mechanical and climatic test methods―Part 1: General | | Дата опубликования | 2006-08-23 | | Дата вступления в силу | 2007-02-01 | | Код МКС | 31.080.01 | | Разработан на основе | IEC 60749-1:2002 | | Степень гармонизации | IDT | | Количество страниц оригинала | 8 | | Статус | Published | | Тип стандарта | voluntary national standard | | Язык оригинала | Chinese | | Доступные языки | | | Имя файла | | | GPQ | L40 | |
|
|
Стандарт GB/T 4937.1-2006 входит в рубрики классификатора:
| | |
|