GB/T 4937.3-2012 | | | Semiconductor devices - Mechanical and climatic tests methods - Part 3: External visual examination |
|
|
 |
Библиография | Обозначение | GB/T 4937.3-2012 | | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic tests methods - Part 3: External visual examination | | Дата опубликования | 2012-11-05 | | Дата вступления в силу | 2013-02-15 | | Код МКС | 31.080.01 | | Разработан на основе | IEC 60749-3:2002 | | Степень гармонизации | IDT | | Количество страниц оригинала | 8 | | Статус | Published | | Тип стандарта | voluntary national standard | | Язык оригинала | Chinese | | Доступные языки | | | Имя файла | | | GPQ | L40 | |
|
|
Стандарт GB/T 4937.3-2012 входит в рубрики классификатора:
| | |
|