GB/T 43040-2023 | | | Semiconductor integrated circuits—Test method of AC/DC converters |
|
|
 |
Библиография | Обозначение | GB/T 43040-2023 | | Заглавие на английском языке | Semiconductor integrated circuits—Test method of AC/DC converters | | Дата опубликования | 2023-09-07 | | Дата вступления в силу | 2024-04-01 | | Код МКС | 31.200 | | Степень гармонизации | | | Количество страниц оригинала | 44 | | Статус | Published | | Тип стандарта | voluntary national standard | | Язык оригинала | Chinese | | Доступные языки | | | Имя файла | | | GPQ | L55 | |
|
|
Стандарт GB/T 43040-2023 входит в рубрики классификатора:
| | |
|