GB/T 44558-2024 | | | Test method for dislocation imaging in III-nitride semiconductor materials—Transmission electron microscopy |
|
|
 |
Библиография | Обозначение | GB/T 44558-2024 | | Заглавие на английском языке | Test method for dislocation imaging in III-nitride semiconductor materials—Transmission electron microscopy | | Дата опубликования | 2024-09-29 | | Дата вступления в силу | 2025-04-01 | | Код МКС | 77.040 | | Степень гармонизации | | | Количество страниц оригинала | 16 | | Статус | Published | | Тип стандарта | voluntary national standard | | Язык оригинала | Chinese | | Доступные языки | | | Имя файла | | | GPQ | H21 | |
|
|
Стандарт GB/T 44558-2024 входит в рубрики классификатора:
| | |
|