KS C IEC 62899-503-1 | | | Printed electronics - Part 503-1: Quality assessment - Test method of displacement current measurement for printed thin-film transistor |
|
|
 |
Библиография | Обозначение | KS C IEC 62899-503-1 | | Международный стандарт | IEC 62899-503-1:2020(IDT) | | Заглавие на английском языке | Printed electronics - Part 503-1: Quality assessment - Test method of displacement current measurement for printed thin-film transistor | | Дата опубликования | 2025.09.30 | | Код МКС | 29.045,31.080.30 | |
|
|
Стандарт KS C IEC 62899-503-1 входит в рубрики классификатора:
| | | | | |
|