| Обозначение | IEC 60749-24(2025) |
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 24. Ускоренные испытания на влагостойкость. Высокоускоренное циклическое испытание (HAST) без смещения |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24: Accelerated moisture resistance - Unbiased HAST |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST |
| Обозначение заменяемого(ых) | IEC 60749-24(2004) |
| Дата опубликования | 27.11.2025 |
| Язык оригинала | английский |
| Количество страниц оригинала | 9 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 47 |
| Номер издания | 2.0 |
| Статус | Действует |
| Код цены | C |
 |