Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/8156996.aspx

KS L 3420

Methods for crystal phase fraction analysis of silicon nitride using X-ray diffraction

На языке оригиналаПоложить в корзину
Заказать перевод

Библиография

ОбозначениеKS L 3420
Заглавие на английском языкеMethods for crystal phase fraction analysis of silicon nitride using X-ray diffraction
Дата опубликования20250306
Код МКС81.060.20

Стандарт KS L 3420 входит в рубрики классификатора: