Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/8167240.aspx

KS C IEC TR 63258

Nanotechnologies - A guideline for ellipsometry application to evaluate the thickness of nanoscale films

На языке оригиналаПоложить в корзину
Заказать перевод

Библиография

ОбозначениеKS C IEC TR 63258
Международный стандартIEC TR 63258:2021(IDT)
Заглавие на английском языкеNanotechnologies - A guideline for ellipsometry application to evaluate the thickness of nanoscale films
Дата опубликования20240531
Код МКС07.120

Стандарт KS C IEC TR 63258 входит в рубрики классификатора: