KS X ISO 6342(2022 Confirm)
Micrographics - Aperture cards - Method of measuring thickness of buildup area
На языке оригинала
Заказать перевод
Библиография
Обозначение
KS X ISO 6342(2022 Confirm)
Международный стандарт
ISO 6342:2003(IDT)
Заглавие на английском языке
Micrographics - Aperture cards - Method of measuring thickness of buildup area
Дата опубликования
20071031
Код МКС
37.080
Стандарт KS X ISO 6342(2022 Confirm) входит в рубрики классификатора:
ОКС \ ТЕХНОЛОГИЯ ПОЛУЧЕНИЯ ИЗОБРАЖЕНИЙ \ Способы формирования изображения документов * Включая микрографию, электронный и оптический способы формирования изображений * Оптические запоминающие устройства см. 35.220.30 \
Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/8170051.aspx